입자 시험 기관(PTA)은 업계에서 가장 광범위한 입도 분석 기능 포트폴리오를 보유하고 있습니다.

Micromeritics의 계약 서비스에는 어떠한 입도 분석 문제 또는 응용 분야별 요구 사항이라도 해결할 수 있는 6가지 이상의 다양한 크기 측정 기법이 포함되어 있습니다. Micromeritics의 직원들은 결과 해석에 도움이 되는 경험과 과학 지식을 보유하고 있으므로 고객에게 적절한 결정을 내리는 데 필요한 풍부한 데이터를 제공할 수 있습니다.

실시 가능한 테스트

  • 동적 광 산란(DLS)을 통한 입도 분석
  • 정적 광 산란을 통한 입도 분석
  • X선 침강 기법
  • 전기 저항법
  • 공기 투과율 입도 분석법
  • 체 분석
  • SEM – 주사 전자현미경 검사
  • 입자 형상 측정
  • 광 차폐법
  • 제타전위 전하 반발 측정

입도 특성화 완벽
가이드 백서

동적 광 산란(DLS)을 통한 입도 분석

이 분석법은 나노 입자 특성 규명에 사용되며, 동적 광 산란은 액체 현탁액 또는 용액에서 확산 입자의 브라운 운동으로 인해 산란되는 빛의 세기 변화를 측정하여 입도를 결정합니다. 입자가 클수록 브라운 운동이 느려집니다. 이 방법은 정적 광 산란 측정보다 입자 농도가 더 높은 용액에서 선호됩니다.

사용 가능한 기기:

  • NanoPlus HD

 

정적 광 산란을 통한 입도 분석

레이저 광 산란 기법은 Mie 및 Fraunhofer 이론을 이용하여 광 산란 패턴으로부터 입도 분포를 결정합니다. 입자가 작을수록 굴절 및 흡수율이 정적 광 산란 패턴에 더 큰 영향을 줍니다. 일반적인 측정 범위는 0.02um~2000um입니다.

사용 가능한 기기:

  • Micromeritics Saturn High Resolution DigiSizer
  • Malvern Mastersizer 3000
  • Malvern Mastersizer 2000

X선 침강 기법

X선 침강 기법은 입자들이 액체 매질에서 가라앉을 때 크기별로 분리되는 자연적인 경향을 이용합니다. 각 크기 등급의 질량 분율은 연 X선의 흡착에 의해 결정됩니다. 이 방법은 입도 분포가 좁은 곳에서 탁월한 분해능을 제공합니다. 측정 범위는 0.1um~300um입니다.

사용 가능한 기기:

 

전기 저항법

일반적으로 Coulter 원리로 알려진 전기 저항법은 작은 오리피스를 사이에 둔 전해질에 잠긴 두 전극 사이에 만들어진 전기 회로를 이용합니다. 입자가 전해질의 흐름에 의해 오리피스를 통과할 때 입자의 부피에 비례하는 전기 신호가 생성됩니다. 이 기법은 용액에서 입자를 계수하여 입도 및 입자 농도를 측정하는 데 모두 사용됩니다.

입도 범위는 0.5um~300um입니다.

이 방법은 보다 확립된 광 산란 기술에 대한 직교 방법으로서 탁월한 접근 방식이며, 광 차폐 기법과 같이 입자의 형상과 광학적 특성에 영향을 받지 않습니다.

 

사용 가능한 기기:

  • Micromeritics Elzone II 5390

공기 투과율 입도 분석법

이 기법은 충진된 분말층에서의 압력 강하라는 원리를 이용합니다. 시료의 높이를 변경하여 이에 따른 층의 “기공률”을 변화시킴으로써 Carmen 방정식에 따라 평균 표면적과 입도를 압력 강하와 유속의 함수로서 결정할 수 있습니다. SAS는 0.2µm~75µm 범위의 입도를 측정하며 압축 정확도는 0.05mm 미만입니다. 이 방법은 설정된 Fisher 수와 동일한 상관관계를 갖는 결과를 생성합니다.

사용 가능한 기기:

  • Micromeritics SAS Subsieve AutoSizer

 

체 분석

입자를 수평 또는 수직 방향으로 교반합니다. 이렇게 하면 입자가 체의 망에 남거나 통과됩니다. 입자의 통로는 체 눈의 크기, 입자의 방향 및 체 표면과 해당 입자의 접촉 횟수에 따라 달라집니다. 입경 측정 범위는 45um~10mm입니다.

사용 가능한 기기:

    • Tyler Ro-Tap RX-29

 

 

SEM – 주사 전자현미경 검사

SEM은 전자 집속 빔을 사용하여 확대된 이미지를 형성하는 분석 도구입니다. 높은 공간 해상도의 표면 형상 및 조성 정보를 실시간 분석으로 얻을 수 있습니다. SEM에 의한 이미지 분석으로 응집에서 개별 1차 입자를 분리할 수 있으며, 사용 가능한 SEM 소프트웨어를 통해 처리하면 입자 자체 및 입자 분포의 직접적인 측정이 가능합니다.

사용 가능한 기기:

입자 형상 측정

입자 형상 효과는 잉크와 토너의 유동성 및 분무 패턴, 연마 효율성 및 생체 이용률과 같은 최종 생성물의 성능 매개변수에 중요한 영향을 미치는 경우가 많습니다.

이러한 분석 기법들은 모든 입자가 구형이라는 것을 전제로 하기 때문에(실제로는 아니지만) 광 산란 및 차폐 방법을 기반으로 하는 입도 분석을 확인하기 위한 검증 매개변수로서 형상이 특히 중요합니다.

Micromeritics 분석 서비스는 광학 현미경, 주사 전자현미경 및 동적 이미지 분석을 사용하여 입자 형상 매개변수를 보고합니다.

동적 이미지 분석은 고해상도 CCD 카메라를 사용하여 검출 영역을 통과하는 입자의 이미지를 캡처하는 자동화된 기술입니다. 이 이미지가 캡처되면 다른 형상 매개변수를 적용하여 입도 분포를 계산할 수 있습니다.

사용 가능한 기기: 

 

광 차폐법

이 기술은 액체 현탁액 내의 희석된 입자 농도를 이용합니다. 현탁액을 레이저 광원과 검출기 사이로 통과시킵니다. 레이저가 흐름 내의 개별 입자를 비추면 검출기에 그림자가 생기거나 빛이 차단됩니다. 이 빛의 차단을 차폐라고 합니다. 검출기는 이 광도의 감소를 측정하고 검량선을 사용하여 입자도와 시료의 농도를 결정하기 위해 신호를 처리합니다. 입도 범위는 0.5~400마이크로미터입니다.

이 기법은 주사액 내 미립자를 검출하기 위한 USP 방법 <788> 및 <789>에 특히 유용합니다.

사용 가능한 기기: 

  • Particle Sizing Systems Accusizer Model 770

 

제타전위 전하 반발 측정

제타전위는 입자 사이의 정전기 또는 전하 반발/인력 크기의 척도입니다. 제타전위는 액체의 특성과 입자의 특성에 따라 달라집니다. 용액 또는 유화액의 집합성 안정성을 결정하는 데 중요한 역할을 합니다. 제타전위가 클수록, 반발력이 강해지고 시스템이 더 안정화됩니다.

사용 가능한 기기:

  • NanoPlus HD-3