SediGraph III Plus 5125
基于科学定律的独特、可靠且成熟的粒径分析仪
- 50 多年来,一直是通过沉降进行粒径分析领域的全球标准。
- 使用斯托克斯定律测定粒径。
- 在粒径分析期间,实时监测颗粒沉降并查看报告的粒径结果。
- 全自动运行并由先进的软件界面控制
- 通过可选的 MasterTech 自动进样器实现高通量。
- 是许多主要行业的行业标准,包括采矿、地质和陶瓷。
- 符合 ASTM B761-06 和高级陶瓷委员会 C28 的要求

SediGraph III Plus 基于直接质量浓度检测测定粒径分布和统计数据,例如 D10、D50 和 D90。 只需按一下按钮即可获得基本和高级报告。 SediGraph III Plus 可以与可选的 MasterTech 自动进样器搭配使用,以连续监测生产工艺,并将数据推送到网络或云端以供远程访问。
特性与优点:
智能设计特性
SediGraph III Plus 具有先进的仪器功能,可确保测量具有可重复性且易于执行。 全新功能使仪器的操作和维护更加轻松,并且 SediGraphs 在不同的地点也能可靠地再现结果。
设计改进包括:
- 对颗粒进行全面完整的分析,能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析,包括粒径小于 0.1 µm 的部分
- 能够将数据与通过其他粒径测量方法获得的数据合并,从而将报告数据的范围扩展到 125000 µm (125 mm),非常适合地质应用
- 自下而上地扫描沉降池可以获取快速沉降的颗粒的准确总数,同时尽可能地缩短分离细颗粒所需的时间
- 全自动操作除了可降低人为错误的发生几率外,还能提高样品通量并减少操作员的参与
- 温控分析可确保在整个分析过程中液体特性保持恒定,因此用户不必担心结果的准确性和可再现性
- 多种分析速度让用户可以选择满足自身需求的速度和分辨率组合
- 实时显示允许用户监控当前分析的累积质量图,并在需要时立即更改程序
- 统计过程控制(SPC)报告可跟踪工艺的性能,便于立即对波动作出响应
- 多图叠加功能支持对一个或多个分析的分析结果进行可视化比较;例如,与参考样品或基线分析叠加,或将同一分析数据的两种不同类型图叠加
- 数据比较图以图形形式显示两个数据集之间的数学差(与参考样品图的差异)或某个数据点的值高于或低于容差范围的程度(不合格图)
- 多分析仪控制功能允许使用一台计算机同时操作两台 SediGraph III,既可节省宝贵的实验室空间,又方便进行数据存储
规格
粒径范围: | 300 至 0.1 µm 等效球直径 |
接液材料: | 不锈钢、Teflon® 浸渍阳极氧化铝、镀镍铝、尼龙、聚丙烯、聚苯乙烯、Tygon® 和 Pharmed® 管、碳化钨、Ertalyte®、Viton®、Buna-n 和环氧树脂 |
样品尺寸: | 50 mL 分散样品 – 不需要精确浓度 |
悬浮液体: | 任何与样品池材料兼容且对 X 射线不具有高吸收性的液体(典型液体有水、乙二醇、矿物油、SediSperse® 和酒精) |
电源要求: | 85 VAC 至 264 VAC,47/63 Hz,450 VA |
温度: | 工作温度范围为环境温度 + 10 °C 至 40 °C;储存或运输温度范围为 -10 °C 至 55 °C |
湿度: | 20% 至 80%(无冷凝) |
其他信息: | 获得 ISO 9001 制造商 CE 认证 |
实体规格: | 高度: 52 cm(20.5 英寸) 宽度: 50.5 cm(20 英寸) 深度: 58 cm(23 英寸) 重量: 43 kg(95 磅) |
技术
Micromeritics SediGraph 一直是全球许多实验室用于粒径分析的首选标准仪器。 无论是在恶劣的生产环境还是受控的实验室环境下,SediGraph 都能以卓越的可靠性持续产生准确的结果。 粒径分布使用沉降法测量。 颗粒质量通过 X 射线吸收直接测量。 通过测量颗粒在重力作用下在具有斯托克斯定律描述的已知特性的液体中的沉降速率,SediGraph 可测定颗粒的等效球直径,粒径范围为 300 至 0.1 µm。
通过将这种成熟的技术与新技术相结合,新一代 SediGraph III Plus 能够提供可再现且高度准确的粒径信息,大多数分析在几分钟内即可完成。
对颗粒进行全面完整的分析,能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析,包括粒径小于 0.1 µm 的部分
能够将数据与通过其他粒径测量方法获得的数据合并,从而将报告数据的范围扩展到 125000 µm (125 mm),非常适合地质应用
自下而上地扫描沉降池可以获取快速沉降的颗粒的准确总数,同时尽可能地缩短分离细颗粒所需的时间
全自动操作除了可降低人为错误的发生几率外,还能提高样品通量并减少操作员的参与
温控分析可确保在整个分析过程中液体特性保持恒定,因此用户不必担心结果的准确性和可再现性
多种分析速度让用户可以选择满足自身需求的速度和分辨率组合
实时显示允许用户监控当前分析的累积质量图,并在需要时立即更改程序
统计过程控制(SPC)报告可跟踪工艺的性能,便于立即对波动作出响应
多图叠加功能支持对一个或多个分析的分析结果进行可视化比较;例如,与参考样品或基线分析叠加,或将同一分析数据的两种不同类型图叠加
数据比较图以图形形式显示两个数据集之间的数学差(与参考样品图的差异)或某个数据点的值高于或低于容差范围的程度(不合格图)
多分析仪控制功能允许使用一台计算机同时操作两台 SediGraph III,既可节省宝贵的实验室空间,又方便进行数据存储
应用
陶瓷: 颗粒的直径范围和每个直径等级的质量分布会显著影响陶瓷粉末的烧结能力及其成型性能乃至成品中的孔径分布。 粒径分布信息有助于确定固化和粘合程序、控制孔结构、确保生坯具有足够强度,并生产具有所需强度、纹理、外观和密度的最终产品。
金属粉末: 通过控制粒径,可在产品中设计非常具体的孔隙特征。 孔隙率特性通常是产品性能的关键。 与陶瓷类似,粒径分布对生坯和最终产品的强度和密度至关重要。
地质/土壤科学: 颗粒直径会影响土壤的保水能力、排水速度和土壤保持养分的能力。 颗粒直径与沉积物的运移直接相关。
化妆品: 化妆品的外观、应用和包装均会受到基粉(如滑石粉)和着色颜料的粒径分布的影响。
颜料: 仅粒径一项就会影响颜色的着色强度。 随着着色强度的提高,产生所需颜色强度所需的颜料量会下降。 粒径也会影响涂料的遮盖力。 此外,粒径分布还会影响光泽、质地、颜色饱和度和亮度。
催化剂: 粒径影响金属对结构敏感催化反应的催化活性。
建筑材料: 水泥的粒径会影响成品混凝土和水泥的凝结时间和强度特性。
矿物和无机化学品: 材料的反应性取决于暴露的表面积和粒径分布。
磨料: 无论磨粒和粉末是用于浆料、干喷砂还是粘结研磨工具,这类材料的粒径分布是否平衡都是基本的考虑因素。 均匀的粒径可确保材料通过喷砂机时流速精确,并且是回收磨料时介质管理的关键决定因素。
配件
配件报价软件
多功能数据呈现和报告系统
SediGraph III Plus 配备功能丰富、易于使用的用户界面,可提供用户希望基于 Windows 的程序所具有的所有便利功能。 这些功能包括点击式菜单、带有实验室徽标图形的可定制报告、可编辑图形、剪切和粘贴图形和表格、数据导出功能等。 自定义方案有助于规划、启动和控制分析,并确保后续分析都以相同的方式进行,而与操作员的技能无关。 用户可以采集、排列、归档和压缩原始数据,并存储标准化的样品信息和分析条件,以便在以后的应用中使用。 完成的报告可以显示在屏幕上、打印到纸上或以各种格式传输到存储设备。
数据报告
SediGraph III Plus 自动提供粒径范围为 300 至 0.1 µm 的颗粒的详细分析数据。 从 125000 至 300 µm 的其他粒径分析中收集的数据可以与 SediGraph 的数据相结合,从而能够有效报告 125000 至 0.1 µm 的颗粒。
除了表格数据外,还提供不同的图形分析图类型,包括:
- 累积质量、面积和粒度
- 沉降速度分布
- 过程控制图
- 对数概率
- 基线/满量程参考样品
- 频率分布
- 与参考样品的差异
- 不合格
- Rosin-Rammler
- 回归分析
可以叠加多图以比较不同样品的结果或比较同一样品的不同类型图。 此举便于用户将分析结果与标准进行比较。 可以缩放图,以便用户能够仔细检查图形数据。 表格和图表的 x 轴选择中均添加了一列,该列以 Phi 为单位报告粒径,其中 Ф = -log2(颗粒直径,以 mm 为单位)。 此外,表格中还提供了沉降速度(cm/s)列选择。 图表的 x 轴可以按粒径或沉降速度进行缩放。
SediGraph II Plus 资源
应用笔记
- 使用 SediGraph 测定多孔粉末的粒径
- 颗粒形状对粒径测定的影响
- 重力沉降粒径分析的悬浮液粘度要求
- 使用 SediGraph 粒径分析仪报告粒径
- 使用 Opt5120 实用工具进行高速 SediGraph 分析
- 使用 Opt5120 实用工具进行 SediGraph 基线分析和求满量程平均值
- 全新 MasterTech 泵
- 将新基准应用于 SediGraph 样品信息文件中的数据
标准方法
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